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為什么激光共聚焦顯微鏡成像質(zhì)量更好？
2023-08-22 激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發(fā)出的光束經(jīng)過一個多孔盤和物鏡后，聚焦到樣品表面。之后光束經(jīng)樣品表面反射回測量系統(tǒng)。再次通過MPD上的針孔時，反射光將只保留聚焦的光點。最后，光束經(jīng)分光片反射后在相機上成像。為什么激光共聚焦顯微鏡成像質(zhì)量更好？1、激光共聚焦顯微鏡采用了激光掃描技術(shù)。與傳統(tǒng)顯微鏡的廣譜光源相比，激光掃描技術(shù)能夠精確定位和聚焦在樣品的特定區(qū)域，從而提高成像的分辨率和準(zhǔn)確性。同時，激光掃描技術(shù)可以消除樣品中的散射和背景信號，從而提高成像的對比度。同時，激光的單色性...
沒想到?。∪S表面輪廓儀有這么多的特點
2023-08-21 三維表面輪廓儀是利用光學(xué)或激光干涉原理進(jìn)行測量。它通過發(fā)射特定的光線（通常是激光束）到被測物體表面，并記錄光線的反射或散射情況。利用光學(xué)傳感器或相機來捕獲并分析這些數(shù)據(jù)，進(jìn)而生成物體的三維模型和輪廓圖。這種非接觸式的測量方法不會對被測物體造成任何損傷，并且能夠在短時間內(nèi)測量大量的樣本。具有高的精度和準(zhǔn)確性，能夠測量微米級甚至更小尺度的表面形貌。它可以用于測量各種材料的平面、曲面、邊緣等特征，并提供詳細(xì)的表面形態(tài)圖像和數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)對于產(chǎn)品設(shè)計、質(zhì)量控制和工藝改進(jìn)都非常重要。三...
國內(nèi)閃測儀的應(yīng)用原理介紹
2023-08-21 閃測儀是一種用于檢測電纜故障的儀器。閃測儀可分為數(shù)字直讀式和示波器式兩種。用閃測儀測故障時不需事先將高阻接地?zé)?，故本方法被廣泛采用。“閃測”是測量領(lǐng)域中最新出臺一種測量儀器的稱呼，全稱是“閃測影像儀”，英文縮寫“VMQ”。在采用這種“閃測影像儀”進(jìn)行精密測量的過程中，用戶只需按下啟動鍵，儀器就可以根據(jù)工件的外觀形狀，快速進(jìn)行精準(zhǔn)測量。操作十分便捷。方式：直閃法在電纜故障相上施加直流高壓或沖擊高壓使故障點絕緣瞬時擊穿，利用擊穿放電時的電波來回反射的時間及電波在電纜中的傳播速度...
飛拍測量|Novator系列影像儀大幅提升半導(dǎo)體模具測量效率
2023-08-21 目前BGA封裝技術(shù)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)，相較于傳統(tǒng)的TSOP封裝，具有更小體積、更好的散熱性能和電性能。在BGA封裝的植球工藝階段，需要使用到特殊設(shè)計的模具，該模具的開窗口是基于所需的實際焊球大小和電路板焊盤尺寸考慮，模具的開窗口大小直接影響到錫球的尺寸，從而影響到最終的焊接效果：若孔徑過小形成凹點，會使得芯片與連接它的其它部件之間的接觸面積變小，導(dǎo)致信號傳輸不良、電氣性能下降等問題；若孔徑過大則會對焊盤產(chǎn)生壓力，使錫漿不易流動形成缺陷。因此該模具在使用前需要經(jīng)過高精度的檢...
BOKI_1000粗糙度測量設(shè)備介紹
2023-08-17 在半導(dǎo)體行業(yè)中，Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素，其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點，從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用，Bump的形狀有多種，常見的為球狀和柱狀，也有塊狀等其他形狀，下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用，從Bondwire工藝發(fā)展到FlipChip工藝的過程中，Bump起到了至關(guān)重要的作用。隨著工藝技術(shù)的發(fā)展，Bump的尺寸也變得越來越小，從最初Standa...
結(jié)構(gòu)深、角度大、反射差？用共聚焦，就對啦！
2023-08-04 隨著超精密加工技術(shù)的不斷進(jìn)步，各種微納結(jié)構(gòu)元件廣泛應(yīng)用于超材料、微電子、航空航天、環(huán)境能源、生物技術(shù)等領(lǐng)域。其中超精密3D顯微測量技術(shù)是提升微納制造技術(shù)發(fā)展水平的關(guān)鍵，中圖儀器自主研發(fā)的白光干涉掃描和共聚焦3D顯微形貌檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測與表面質(zhì)量檢測方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)。一、結(jié)構(gòu)深、角度大電子產(chǎn)品中一些光學(xué)薄膜表面存在一些特殊的微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)表現(xiàn)為窄而深...
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)只能測同質(zhì)材料嗎？
2023-08-03 白光干涉儀以白光干涉為原理，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)等領(lǐng)域，對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、磨損情況、腐蝕情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析，是一種常見的光學(xué)輪廓測量儀器。但是許多人對白光干涉儀的使用范圍和限制性存在疑問，本文將圍繞“白光干涉儀是否智能測量同質(zhì)材料？”進(jìn)行深入探討。白光干涉儀由光源、分光器、干涉儀和探測器等部分組成。儀器基于干涉現(xiàn)象原理工作：當(dāng)兩束或多束光線相互疊加時，會發(fā)生干涉現(xiàn)象。...
激光跟蹤儀與三坐標(biāo)測量機的不同
2023-08-03 現(xiàn)代工業(yè)領(lǐng)域中，激光跟蹤儀和三坐標(biāo)測量機都是常用的測量和定位的檢測設(shè)備，在工業(yè)制造、制造質(zhì)量控制、工程測量等領(lǐng)域中都發(fā)揮著重要作用。但在產(chǎn)品功能、測量范圍以及使用性能特點上，激光跟蹤儀與三坐標(biāo)測量機還是有些不同。一、產(chǎn)品功能激光跟蹤儀基于激光技術(shù)，利用激光器發(fā)出的激光束對物體進(jìn)行掃描，通過接收器接收反射回來的激光信號，并通過處理算法計算出物體的位置和姿態(tài)信息。主要用于測量和追蹤物體的三維位置和姿態(tài)。三坐標(biāo)測量機是通過使用測頭來接觸物體表面，記錄多個測量點的坐標(biāo)信息，并通過計算...

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