產(chǎn)品分類
W1光學(xué)3d表面輪廓儀器采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有優(yōu)異抗噪性能的3D重建算法,真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細(xì)節(jié),隨意翻轉(zhuǎn)縮放,都能輕松觀察、測(cè)量樣品的任意特征。
中圖光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x直觀的操作界面,讓您對(duì)操作流程一目了然,自動(dòng)聚焦,助您一鍵實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程;可視化的工作流程樹(shù),一鍵激活的圖庫(kù)管理功能,所見(jiàn)即所得的分析功能,有一鍵分析功能,批量測(cè)量不用愁。
SuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀可以測(cè)到12mm,也可以測(cè)到更小的尺寸,XY載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機(jī)可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級(jí)別,因此可測(cè)非常微小尺寸的器件。
中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)??梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。
SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
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