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優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡

簡要描述:中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。

  • 更新時(shí)間:2025-02-13
  • 產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 訪  問  量:134

詳細(xì)介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器產(chǎn)地類別國產(chǎn)
儀器種類鎢燈絲應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,電氣,綜合

中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。

優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡


鎢燈絲電子槍能夠產(chǎn)生較大的總發(fā)射電流和束斑,且電流穩(wěn)定性較好,這對(duì)于需要較強(qiáng)電子束流來激發(fā)樣品信號(hào)的檢測任務(wù)非常有利,如對(duì)塊狀樣品、厚樣品或?qū)щ娦暂^差的樣品進(jìn)行觀察和分析時(shí),可以獲得更清晰、更準(zhǔn)確的圖像和數(shù)據(jù)。


核心優(yōu)勢

1、緊湊靈活,突破空間限制

(1)臺(tái)式設(shè)計(jì),體積小巧,輕松擺放在桌面或狹小空間(如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室),節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。

(2)支持快速移機(jī),一臺(tái)設(shè)備滿足多場景需求,助力科研效率提升。

2、高性能,納米級(jí)分辨率

(1)空間分辨率優(yōu)于4nm(SE),支持高達(dá)200,000倍放大,精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

(2)高襯度成像系統(tǒng),快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號(hào),滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁,穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

(1)特殊隔振設(shè)計(jì)(CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)),消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾,保障高倍成像質(zhì)量。

(2)適用于工業(yè)車間、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境,穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷,一鍵智能操作

(1)快速抽放氣技術(shù):低真空模式僅需40秒(CEM3000B),高真空模式最快1.5分鐘,大幅縮短等待時(shí)間。

(2)自動(dòng)對(duì)焦、消像散、圖像增強(qiáng)功能,一鍵生成高質(zhì)量圖片,降低操作門檻。

5、靈活拓展,滿足多樣需求

(1)可選配低真空系統(tǒng)(5~100Pa),兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測。

(2)支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀,搭配顆粒統(tǒng)計(jì)、孔隙率測量等定制功能,滿足多領(lǐng)域分析需求。

優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡

中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。


機(jī)型選擇

CEM3000A(大樣品倉型):70mm×70mm樣品倉,兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B(抗振型):專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì),抽氣更快(低真空僅40秒),成像更穩(wěn)定。

優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡

應(yīng)用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊,空間適用性強(qiáng),整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì),避免使用環(huán)境造成的影響,拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí),該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測,具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡上搭配不同的探頭,同時(shí)接收多種信號(hào),對(duì)樣品進(jìn)行分析。

應(yīng)用范例:

優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡


應(yīng)用場景

材料科學(xué):納米材料(如60nm銀線)、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源:太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評(píng)估。

生物醫(yī)療:微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢:錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

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