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簡(jiǎn)要描述：中圖儀器SEM掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
更新時(shí)間：2025-02-08產(chǎn)品型號(hào)：CEM3000廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家訪 問(wèn) 量：144詳細(xì)介紹
| 品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,電氣,綜合 |
中圖儀器SEM掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
1、緊湊靈活，突破空間限制
（1）臺(tái)式設(shè)計(jì)，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室），節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。
（2）支持快速移機(jī)，一臺(tái)設(shè)備滿足多場(chǎng)景需求，助力科研效率提升。
2、高性能，納米級(jí)分辨率
（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達(dá)200,000倍放大，精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。
（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號(hào)，滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。
3、抗振防磁，穩(wěn)定無(wú)懼挑戰(zhàn)
（1）特殊隔振設(shè)計(jì)（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。
（2）適用于工業(yè)車間、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。
4、高效便捷，一鍵智能操作
（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時(shí)間。
（2）自動(dòng)對(duì)焦、消像散、圖像增強(qiáng)功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門(mén)檻。
5、靈活拓展，滿足多樣需求
（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測(cè)。
（2）CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。
中圖儀器SEM掃描電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。
CEM3000系列共涵蓋CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）和CEM3000B（抗振型）兩款強(qiáng)化機(jī)型，CEM3000A在不改變整機(jī)外觀尺寸的情況下，拓展了樣品倉(cāng)尺寸，從而可對(duì)大尺寸樣品或多個(gè)常規(guī)尺寸樣品進(jìn)行分析。同時(shí)，用戶也可選擇加裝有減振倉(cāng)的CEM3000B，確保在縮短抽放氣時(shí)間的同時(shí)，消除環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡的影響，保證了高倍數(shù)成像時(shí)的圖像質(zhì)量。
1.高分辨率，滿足用戶觀測(cè)需求；
2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；
3.高易用性
可快速成像，一鍵成片；
4.多種成像參數(shù)
滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；
5.高抗振防磁性能
強(qiáng)抗干擾能力；
6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行觀測(cè)。
7.大樣品倉(cāng)
SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；
8.多探測(cè)器
可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。
材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。
新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)、涂層性能評(píng)估。
生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測(cè)、藥物載體研究。
工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。
型號(hào) | CEM3000A（大樣品倉(cāng)型） | |
電子槍 | 燈絲 | 鎢燈絲 |
分辨率 | 優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE) @20kV | |
加速電壓 | 1 ~ 20kV | |
放大倍數(shù) | 電子圖：40 ~ 200,000×（可選配大圖拼接） | |
探測(cè)器 | 二次電子 | 標(biāo)配 |
背散射電子 | 標(biāo)配（四象限高分辨探頭） | |
能譜儀 | 選配 | |
自動(dòng)化軟件 | 標(biāo)配：自動(dòng)合軸、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、一鍵圖像增強(qiáng) | |
選配：顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量、纖維測(cè)量、三維粗糙度重建 | ||
真空系統(tǒng) | 真空度 | 高真空：優(yōu)于9×10-3Pa 低真空：5 ~ 100 Pa（選配） |
抽真空時(shí)間 | 低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min | |
樣品臺(tái) | 自動(dòng)軸 | X，Y，T |
手動(dòng)軸 | R，Z | |
行程范圍 | X: 50mm | |
Y: 50mm | ||
R: 0°~360°（手動(dòng)旋轉(zhuǎn)、電子束旋轉(zhuǎn)） | ||
T: -22.5°~ +22.5° | ||
Z: 45mm | ||
最大樣品尺寸 | 70mm×70mm（水平） 45mm（高度） | |
倉(cāng)內(nèi)相機(jī) | 導(dǎo)航相機(jī) | 標(biāo)配高分辨彩色相機(jī) |
側(cè)視相機(jī) | 標(biāo)配高分辨紅外相機(jī) | |
操作系統(tǒng) 圖片尺寸 | Windows10 (64bit) | |
640×480 | ||
1280×960 | ||
2560×1920 | ||
5120×3840 | ||
10240×7680 | ||
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